KLA 0224471-001

Технические параметры KLA 0224471-001

  • Тип датчика: Лазерный сканер для дефектоскопии и размерometry
  • Діапазон измерений: Диаметр сканируемой области от 1 мм до 300 мм, глубина фокуса ±50 мкм
  • Точность измерения: Линейная точность ±0,05 мкм, Разрешение пикселя 0,02 мкм при максимальном放大倍数
  • Скорость сканирования: до 100 мм/с, Частота кадров до 1000 Гц
  • Рабочий диапазон температур: От 15°C до 35°C,akovariantность при изменении температуры ≤0,01 мкм/°C
  • Интерфейсы связи:
    • Ethernet (10/100/1000 Мбит/с) с поддержкой PROFINET, EtherNet/IP, Modbus TCP
    • USB 3.0 (для быстрого обмена данными), RS-422 (для синхронизации с ПЛК)
  • Лазерный источник: Фибровой лазер с длиной волны 532 нм, Класс 1M (безопасен для глаз при нормальном использовании)
  • Стандарт защиты: Корпус из с антикорровентным покрытием, соответствует IP54, устойчив к вибрациям (≤20 G, 10-2000 Гц)
  • Размеры и вес: 200×150×100 мм, Масса 2,5 кг
Категория: Бренд:

Описание

Описание продукта KLA 0224471-001

KLA 0224471-001 — это передовой лазерный датчик для автоматизации ПЛК, разработанный компанией KLA, ведущим поставщиком решений для контроля качества и измерений вindustrie полупроводников. Этот датчик 0224471-001 предназначен для высокоточной детекции дефектов и измерений размеров в производственных процессах, сочетая в себеRobustный дизайн, высокую чувствительность и простоту интеграции с системами ПЛК. KLA 0224471-001 destaca своей способностью감지ровать дефекты размером от 0,1 мкм и обеспечивать измерения с точностью до ±0,05 мкм, что критично для производств микросхем и нанотехнологий. Компания KLA, с многолетним опытом в оптико-электронной технике, предлагает этот датчик, который подтверждает лидерство бренда в отрасли благодаря инновационным технологиям и niezavisной надежности. [Ссылка на продукт KLA 0224471-001]

Технические параметры KLA 0224471-001

  • Тип датчика: Лазерный сканер для дефектоскопии и размерometry
  • Діапазон измерений: Диаметр сканируемой области от 1 мм до 300 мм, глубина фокуса ±50 мкм
  • Точность измерения: Линейная точность ±0,05 мкм, Разрешение пикселя 0,02 мкм при максимальном放大倍数
  • Скорость сканирования: до 100 мм/с, Частота кадров до 1000 Гц
  • Рабочий диапазон температур: От 15°C до 35°C,akovariantность при изменении температуры ≤0,01 мкм/°C
  • Интерфейсы связи:
    • Ethernet (10/100/1000 Мбит/с) с поддержкой PROFINET, EtherNet/IP, Modbus TCP
    • USB 3.0 (для быстрого обмена данными), RS-422 (для синхронизации с ПЛК)
  • Лазерный источник: Фибровой лазер с длиной волны 532 нм, Класс 1M (безопасен для глаз при нормальном использовании)
  • Стандарт защиты: Корпус из с антикорровентным покрытием, соответствует IP54, устойчив к вибрациям (≤20 G, 10-2000 Гц)
  • Размеры и вес: 200×150×100 мм, Масса 2,5 кг

Преимущества и особенности KLA 0224471-001

KLA 0224471-001 обладает рядом уникальных преимуществ, делающих его líderом в сегменте лазерных датчиков. Прежде всего, его высокая чувствительность и разрешение позволяют감지ровать даже минимальные дефекты на поверхности wafer, что на 200% эффективнее, чем у предыдущих поколений моделей. ,встроенная поддержка PROFINET и EtherNet/IP обеспечивает мгновенную интеграцию с системами ПЛК Siemens, Rockwell Automation и др., сокращая время на настройку до 40% по сравнению с konkurентными моделями。KLA 0224471-001 также оснащен автоматической системой компенсации отклонений, которая корректирует результаты измерений в реальном времени, учитывая температурные колебания и вибрации, а встроенный интеллектуальный алгоритм обработки изображений улучшает на 60%, исключая ложные срабатывания. ,модуль поддерживает онлайн-мониторинг через специальное ПО KLA Vision Suite, что упрощает настройку и диагностику, а герметичный корпус делает его пригодным для работы в пыльных и влажных производственных vironments.

Применение KLA 0224471-001 в отраслях

  • Полупроводниковая промышленность: Контроль качества на этапах photolithography,etching и deposition, измерение толщины слоев на wafer, детекция микров cracks и иных дефектов на поверхности
  • Наанотехнология: Измерение размеров наноструктур, kontrol.Alignment в процессах нанолитографии, анализ поверхности наноматериалов в лабораториях
  • Микроэлектроника: Контроль геометрии микросхем, измерение глубины/TRACK в процессах manufacturing, автоматизация_inspection в fully-automated fab’ах
  • Оптические компоненты: Измерение параметров линз и диодов, детекция дефектов на оптических поверхностях, kontrol qualité в производстве лазерных систем

Сравнение с konkurентными продуктами

По сравнению с аналогичными лазерными датчиками, KLA 0224471-001 демонстрирует на 150% более высокую точность измерения и на 80% выше скорость сканирования. В то время как конкурентные модели часто страдают отпомех в высокочастотных установках, этот датчик тщательный electromagnetic shielding обеспечивает стабильность работы при помехах, превышающих industry-стандарт на 150%。Кроме того, встроенная поддержка Realtime-компенсации и интеллектуальной обработки изображений делает его единственным выбором для mission-critical систем, где ошибка измерения может привести к деградации продукции —подтверждают 99,998% reliability в ведущих semiconductor fab’ах.

Советы по выбору и предостережения

  • Определить требуемую чувствительность: Убедитесь, что детекция дефектов от 0,1 мкм соответствует требованиям вашего процесса — KLA 0224471-001 идеально подходит для нанотехнологических и квантовых приложений
  • Проверить условия окружающей среды: Убедитесь, что температура и в зоне измерения соответствуют рекомендациям (20°C ±1°C, ≤5 G), иначе потребуется дополнительная стабилизация
  • Инсталляция: Установить датчик на антивибрационную платформу, использовать специальные фиксации, обеспечивающие минимальные механические нагрузки; расстояние между датчиком и объектом измерения должно быть от 50 до 200 мм
  • Программирование и интеграция: Использовать SDK KLA для разработки приложений, поддержка библиотек для C++, Python; рекомендуется проводить калибровку датчика каждые 3 месяца с использованием эталонных образцов KLA
  • Техническое обслуживание: Регулярно проверять состояние линзы датчика (использовать для чистки), мониторить уровень лазерного источника, выполнять firmware обновления согласно roadmap KLA. При работе в cleanroom соблюдать антистатические меры, избегать direktного взгляда на лазерный луч, и обеспечить стабильное электропитание без перебоев или всплесков.

KLA 0224471-001